【IEEETII】基于双向LSTM和注意力机制的工业异常检测集成生成模型
摘 要
对于新兴的工业物联网（IIoT）来说，智能异常检测是构建智能产业的关键一步。特别是爆炸性的时间序列数据对现代工业的信息挖掘和处理提出了巨大的挑战。如何识别和检测多维工业时间序列异常是一个重要问题。然而，大多数现有的研究都未能处理大量未标记的数据，从而产生了不理想的结果。在本文中，我们提出了一种新的集成深度生成模型，该模型是由基于双向长短期记忆和注意力机制（AMBiGAN）的生成对抗性网络构建的。生成器和鉴别器的结构是具有注意力机制的双向长短期记忆，可以捕捉时间序列依赖性。重构损失和生成损失测试样本训练空间和随机潜在空间的输入。实验结果表明，我们提出的AMBi GAN的检测性能有可能提高人工智能时代工业多维时间序列异常对IIoT的检测精度。
