着物联网的飞速发展，物联网设备的安全问题受到了广泛的关注．物联网设备的款硬件特性 导致其极易遭受各类攻击．对物联网设备的异常检测成为近年的热点，传统的基于入侵检测、流量分析 等防护方式无法适用于物联网设备的软硬件环境．针对这一问题，提出了基于芯片辐射的异常检测方 案，以物联网设备在工作N-向外辐 号进行特f征提取和选择后，利用一 萎萎昙詈蓼戮端 20：4_CB3406 射的电磁波信号作为检测依据，采用遗传算法和近似熵理论对原始信 类支持向量机对正常行为产生的辐射信号进行训练．该方案具有无侵入的特性，无需对原有系统进行任何软硬件改造，适用于现有物联网设备．最后的实验结果表明：与其他常用的异常检测方案相比，该方案能够更有效地检测物联网设备的异常行为，具有较高的准确性和较低 的误报率．
