微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离： 用0.4mm的塞尺置于固定套管上比较测量（ ≤ 0.4mm ） ，微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对距离： 当测量下限调整正确后，读取微分筒的零刻线与固定套管纵 向刻线右边缘的偏移量 要求：压线≤0.05mm 离线≤0.1mm ，测量面的平面度：用平面平晶以技术光波干涉法 对于后续校准的可用刀口尺以光隙法，数显千分尺的细分误差：在任意位置上，沿测量方向转动微分筒，每间隔0.04mm检查一次，共计12次，分别读出各受检点数显值与微分筒读数值之差，以其最大差值确定
