在 X 荧光能谱测量中 ，当两个事例发生间隔较短时 ，存在脉冲前沿或后沿堆积的情况 。如果能谱仪 的脉冲分辨能力不足 ，在事例发生间隔小于能谱仪脉冲分辨能力时 ，发生了偶然符合效应 。当堆积发生在信 号的上升沿时 ，后端电子学无法识别堆积脉冲 ，并将堆积脉冲当成 1 个脉冲 ，从而在测量能谱中会产生虚假 能峰 ；当堆积出现在下降沿时 ，堆积信号间隔小于通道成形时间时 ，堆积信号会被丢弃 ，导致所测量谱线的 有效计数减小 ，对精确放射性测量带来了不利影响 。从提高能谱仪模拟电路信噪比 、降低误触发 、缩短快成 形通道成形时间 、提高能谱仪的脉冲分辨能力 ，从而减小符合效应等角度入手 ，研制了一种低偶然符合效应 的快慢双成形通道的数字化能谱仪 。该能谱仪设计了具有高脉冲分辨能力的快通道 ，采用对称零面积梯形 成形算法 ，有效消除快通道时间变窄带来的不足 ，结合对梯形平顶的判断 ，实现对低频噪声抑制与降低误触 发概率 ；同时设计高信噪比 、低噪声的模拟电路以减小快通道对噪声误触发的概率 ，降低偶然符合概率 。文 中先利用仿真验证了提升快通道时间可以提升脉冲分辨能力 ，接着利用 MOXTEK 的 X 光管激发被测样品 Cu 获得特征 X 射线 ，由 KETEK 的高分辨率 SDD 探测器检测信号 ，通过调节 X 光管的管流得到计数率范围 为 13 ～ 103 kcps 的 X 荧光能谱 ，从而得到偶然符合概率与计数率的关系 ，并且通过改变快通道成形时间分 析其对偶然符合的影响 。实验表明 ，更低的快通道成形时间拥有更高的脉冲分辨率能力 ，更低的偶然符合效 应 ；在 103 kcps 计数率下 ，150 ns 快通道成形时间条件下 ，Cu 的 Kα峰 、 Kβ及 Kα ＋ Kβ的偶然符合概率分 别为 1.568％ ，0. 265％ 和 0.403％ ；设计的对比实验结果表明 ：在相同快通道成形时间条件下 ，所研制的数 字化能谱仪相比于 Amptek 的 DP-5 型号数字化能谱仪偶然符合概率低了 60％ 。
